- 产品型号 SN74BCT8244ADW
- 品牌 Texas Instruments
- RoHS Yes
- 描述 IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
- 分类 专业逻辑
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库存:1539
技术细节
- 包装/箱 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
- 安装类型 Surface Mount
- 位数 8
- 逻辑类型 Scan Test Device with Buffers
- 工作温度 0°C ~ 70°C
- 电源电压 4.5V ~ 5.5V
- 供应商设备包 24-SOIC
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